Позволяет производить измерения на подложках толщиной до 10 мм, включая фотобумагу, холст, картон, ткань, даже пластик и керамику.
i1iO считывает более 500 полей в минуту и, таким образом, вы можете быстро построить индивидуальный профиль - гибок в использовании измерения в сканирующем режиме, так и в режиме измерения единичных полей шкалы.
Представляет собой дополнительное устройство для прибора i1Pro (без спектрофотометра i1Pro автоматизированный стол i1iO не может быть использован).
Поскольку стол используется совместно с i1Pro, данный комплект позволит вам калибровать мониторы, измерять внешнее освещение и строить профили цифровых проекторов.
- Максимальный размер измеряемой шкалы: 230 мм (9”) х 320 мм (12.6”)
- Геомерия измерения: 0/45 круговая оптическая система, DIN 5033
- Спектральный диапозон: 380 - 730 нм
- Минимальный размер поля: 6 x 7 мм (0,24” x 0,28”)
- Скорость измерения: 500 полей/мин ( в сканирующем режиме в зависимости от размера поля)
- Максимальная толщина измеряемого материала: максимум 10 мм (0.39”)
- Количество полей в шкале: от 1 поля до 1696 полей
- Условия измерения: Без фильтра - ISO 13655 M0 или UV-Cut фильтр - ISO 13655 M2 в зависимости от используемого i1Pro
- Краткосрочная повторяемость: 0.1 dE*94 по белой керамической пластине (D50, 2º), по отношению к среднему значению CIELab при 10 измерениях каждые 3 секунды
- Межприборная согласованность: 0.4 dE*94 среднее, 1.0 dE*94 максимум ( согласно нормам производства X-Rite при температуре 23ºC (73,4ºF) по 12 керамическим эталонам BCRA (D50, 2º)
другие устройства со схожими характеристиками
Все 2 arrow_forward
